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  • JWDL-1型金屬電阻率測(cè)試儀(銅,導(dǎo)電薄膜)
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  • DRJS-2型電容器金屬化膜測(cè)試儀(平行刀法)
    DRJS-2型電容器金屬化膜測(cè)試儀(平行刀法) DRJS-2型電容器金屬化膜測(cè)試儀是一款專門應(yīng)用于電容器薄膜測(cè)試的設(shè)備, PET薄膜上金屬化膜,真空鍍膜和噴鍍工藝形成,金屬膜厚度極薄,附著力差,容易脫落。 薄膜專用測(cè)試探頭自帶彈簧收縮功能,很好的解...
  • FA-5000型FA-5000型飛安級(jí)和皮安級(jí)微電流測(cè)試儀
    FA-5000型FA-5000型飛安級(jí)和皮安級(jí)微電流測(cè)試儀 FA-5000型FA-5000型微電流測(cè)試儀系列飛安表/皮安表/靜電計(jì)/高阻計(jì)提供了行業(yè)的測(cè)量功能。飛安表/靜電計(jì)具有0.1 fA (10-16A) 最小電流分辨率,可滿足大部分場(chǎng)景的微弱電流測(cè)量需求...
  • JTFS-3000型變溫焦耳熱閃蒸系統(tǒng)
    JTFS-3000型變溫焦耳熱閃蒸系統(tǒng) JTFS-3000型變溫焦耳熱閃蒸系統(tǒng)是將焦耳熱閃蒸技術(shù)與冷熱臺(tái)相結(jié)合的極寬溫域、超快速度材料合成和調(diào)控系統(tǒng),可有效調(diào)控合成材料的微觀形貌和結(jié)構(gòu)。我們提供常溫的焦耳熱閃蒸系統(tǒng),同時(shí)提供變溫下的焦耳熱閃...
  • BMDZ-4型PVDF薄膜電阻綜合測(cè)試測(cè)試儀
    BMDZ-4型PVDF薄膜電阻綜合測(cè)試測(cè)試儀 BMDZ-4型PVDF薄膜電阻測(cè)試儀是運(yùn)用環(huán)形三電極法原理測(cè)量固體片狀、薄膜狀或液體類導(dǎo)靜電材料、絕緣材料體積電阻率和表面電阻率的多用途綜合測(cè)量裝置,也可作為超高阻計(jì)或微電流測(cè)試儀使用。不僅可測(cè)試薄膜...
  • JKZC-YDZK03A超寬頻率壓電阻抗分析儀
    JKZC-YDZK03A超寬頻率壓電阻抗分析儀 JKZC-YDZK03C型超寬頻率壓電阻抗分析儀 關(guān)鍵詞:壓電阻抗,壓電陶瓷,壓電材料,自動(dòng)平衡JKZC-YDZK03C型超寬頻率壓電阻抗分析儀是用于壓電材料測(cè)試高精度阻抗分析儀,主要是主要用于鐵電...
  • JKZC-YDZK03AN壓電阻抗綜合測(cè)試系統(tǒng)
    JKZC-YDZK03AN壓電阻抗綜合測(cè)試系統(tǒng) JKZC-YDZK03N壓電阻抗綜合測(cè)試系統(tǒng)是一款多用途的綜合測(cè)試系統(tǒng),即可用于縱向壓電D33測(cè)試,豎向D15,橫向D31等性能測(cè)試,配置了高低溫冷熱臺(tái),進(jìn)行變溫測(cè)試,配置顯微鏡進(jìn)行微觀觀測(cè),也可以用...
  • PVDF-600連續(xù)式壓電PVDF薄膜極化裝置
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  • WSHD-600型晶圓均勻加熱裝置
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  • TDZT-04C 鐵電材料參數(shù)測(cè)試儀
    TDZT-04C 鐵電材料參數(shù)測(cè)試儀 TDZT-04C 鐵電材料測(cè)試儀關(guān)鍵詞:電滯回線,疲勞,脈沖,漏電流,TDZT-04C鐵電測(cè)試儀通過全局總線進(jìn)行控制,可以有效提高儀器控制速度及安全水平。設(shè)備采用孔浮地技術(shù),可有效地降低電荷泄露造成的...
  • SWXWY-600型*材料高低溫應(yīng)變測(cè)量系統(tǒng)
    SWXWY-600型*材料高低溫應(yīng)變測(cè)量系統(tǒng) SWXWY-600型*材料高低溫三維顯微應(yīng)變測(cè)量系統(tǒng)系統(tǒng)——光學(xué)顯微鏡和DIC數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)的結(jié)合,可以滿足納米級(jí)精度測(cè)量需求。SWXWY-600型*材料三維顯微應(yīng)變測(cè)量系統(tǒng)系統(tǒng)彌補(bǔ)了傳統(tǒng)設(shè)備無法進(jìn)...
  • JSRD-200型金屬絲材導(dǎo)電率綜合測(cè)試儀
    JSRD-200型金屬絲材導(dǎo)電率綜合測(cè)試儀 金屬材料在材料中占著重要的地位,隨著技術(shù)的發(fā)展,對(duì)于金屬材料的性能越來越高,從低溫到高溫,從塊材到絲材,從電學(xué)到力學(xué)的要求,這些都是未來金屬材料提出了更高要求。 JSRD-200型金屬絲材導(dǎo)電...
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