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2021-06-30
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SCD-1500型半導體C-V特性分析儀創(chuàng)新性地采用了雙CPU架構、Linux底層系統(tǒng)、10.1英寸電容式觸摸屏、中英文操作界面、內置使用說明及幫助等新一代技術，適用于生產線快速分選、自動化集成測試及滿足實驗室研發(fā)及分析。半導體C-V特性分析儀測試頻率為10kHz-2MHz，VGS電壓可達±40V，足以滿足二極管、三極管、MOS管及IGBT等半導體件CV特性測試分析。
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